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2024

11-14

環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，用于觀察樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)。相比傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡，具有在高濕度、高溫度和高壓環(huán)境下觀察樣品的能力。其工作原理涉及電子束的產(chǎn)生、樣品的準(zhǔn)備與處理、電子束與樣品的相互作用以及信號(hào)的檢測(cè)與處理等多個(gè)方面。首先，在環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡中，電子束是通過鎢燈絲產(chǎn)生的。鎢燈絲被加熱至高溫，以致其發(fā)射出電子，形成電子束。這些電子束經(jīng)過一系列電子光學(xué)元件，如準(zhǔn)直器、聚焦器、透鏡等，被聚焦成一個(gè)細(xì)束，然后通過電場(chǎng)和磁場(chǎng)的協(xié)同作用，被引導(dǎo)到樣品表面上。...

2024

11-11

STEM透射電鏡的主要構(gòu)成部件有哪些？

STEM透射電鏡是一種高分辨率的透射電子顯微鏡，主要用于觀察樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和原子級(jí)別的細(xì)節(jié)。它由多個(gè)關(guān)鍵部件組成，每個(gè)部件都起著重要的作用，下面將介紹STEM透射電鏡的主要構(gòu)成部件：1.電子槍：電子槍是其核心組件，負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能量的電子束。電子槍通常包括熱陰極和加速器，通過加熱陰極產(chǎn)生電子，并通過加速器加速電子束，最終形成高速的電子束用于照射樣品。2.透鏡系統(tǒng)：透鏡系統(tǒng)包括對(duì)焦透鏡、準(zhǔn)直透鏡等，用于聚焦和控制電子束的路徑。透鏡系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和調(diào)節(jié)對(duì)于成像的清晰度和分辨率至關(guān)重要。3...

2024

11-8

高分辨率掃描電鏡的分辨率受哪些因素影響？

高分辨率掃描電鏡是一種利用電子束與樣品相互作用來獲得高分辨率圖像的先進(jìn)技術(shù)，它在材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。相對(duì)于其他高分辨率成像技術(shù)，它的試樣制備相對(duì)簡(jiǎn)便，能夠觀察到樣品表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)和特征。高分辨率掃描電鏡的分辨率受多種因素影響，主要包括以下幾個(gè)方面：1、光源：使用的光源越強(qiáng)，分辨率就越高。通常使用的光源有電子束和激光等，電子束具有較高的能量和較小的波長(zhǎng)，能夠提供更高的分辨率。2、匯聚光學(xué)系統(tǒng)：匯聚光學(xué)系統(tǒng)包括透鏡、光闌等光學(xué)元件，其設(shè)計(jì)和性能直接...

2024

11-5

環(huán)境掃描電鏡的樣品制備過程是怎樣的？

環(huán)境掃描電鏡是一種能夠在高濕度和不導(dǎo)電的樣品表面進(jìn)行觀察的電鏡技術(shù)。在制備樣品時(shí)，需要采取一系列步驟來確保樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)能夠被清晰地觀察和分析。以下是環(huán)境掃描電鏡樣品制備的基本步驟：1、樣品收集：首先需要從需要研究的環(huán)境中收集樣品，可以是自然環(huán)境中的植物、昆蟲、土壤等，也可以是工業(yè)環(huán)境中的材料、粉塵等。樣品應(yīng)該被小心地收集并儲(chǔ)存在合適的條件下，以避免樣品表面的損壞或污染。2、樣品處理：在準(zhǔn)備樣品之前，需要對(duì)樣品進(jìn)行處理以確保樣品表面的平整和干燥。這包括去除可能存在的雜質(zhì)...

2024

10-25

金相磨拋機(jī)您使用的正確嗎？

金相磨拋機(jī)是一種研磨設(shè)備，它利用各種不同粒度的耐水研磨金相砂紙，對(duì)各種金屬及其合金試樣以及各種巖相試樣進(jìn)行粗磨、精磨、干磨、濕磨等各道研磨工序，作拋光前的粗加工工序，同時(shí)可作拋光試樣?？梢淮涡酝瓿赡伖ぷ?，起到一機(jī)多用的好處。金相磨拋機(jī)的操作流程：1、準(zhǔn)備階段：連接進(jìn)水管，將插頭插入電源插座，啟動(dòng)電機(jī)，檢查電機(jī)軸的旋轉(zhuǎn)方向。2、更換砂輪：松開蓋上的螺釘并拆下蓋，然后拆下并更換砂輪(注意安裝時(shí)砂輪兩側(cè)應(yīng)墊兩個(gè)厚紙墊片)。3、測(cè)試夾緊：用支撐板支撐鋸架，將樣品放在鋸架鉗口的前面，...

2024

10-25

電鏡應(yīng)用|Apreo 2表征鋰電池硅基負(fù)極材料

為了提高鋰電池的能量密度，市場(chǎng)急需容量高、成本低廉、可規(guī)?；a(chǎn)的新型材料。與插層類石墨負(fù)極材料相比，Si、Ge、Al、Sb等合金類負(fù)極材料具有更高的儲(chǔ)鋰容量。硅基負(fù)極材料硅基負(fù)極材料的比容量最高，可高達(dá)3500mAh/g，是石墨容量的10倍。開發(fā)硅基負(fù)極材料的另一個(gè)原因是Si是地殼中第二大儲(chǔ)量的元素（質(zhì)量比占28%），表明其具有低成本大量生產(chǎn)的潛力。但是硅基負(fù)極材料在鋰的嵌入/脫出過程中體積膨脹（Si的膨脹率甚至達(dá)到300%）而導(dǎo)致顆粒粉化，導(dǎo)致電極失效；而且由于Li嵌入/...

2024

10-25

掃描電鏡在隔膜材料中的應(yīng)用

鋰離子電池主要由正極材料、負(fù)極材料、隔膜和電解液幾部分組成。鋰離子通過電解液在正負(fù)極之間來回移動(dòng)完成電池的充放電過程。其中隔膜在電池中主要起著防止正極與負(fù)極接觸，阻隔充放電時(shí)電路中的電子通過，允許電解液中鋰離子自由通過，從而實(shí)現(xiàn)離子傳導(dǎo)的重要作用。干法隔膜與濕法隔膜隔膜的原材料主要為PE（聚乙烯）或PP（聚丙烯）等烯烴化工原材料。按照工藝可分為干法單向拉伸隔膜、干法雙向拉伸隔膜、濕法隔膜和3層PP/PE/PP復(fù)合隔膜，這幾種隔膜的主要區(qū)別在于微孔的成孔機(jī)理不同。圖一：隔膜產(chǎn)業(yè)...

2024

10-20

聚焦離子束顯微鏡的基本原理及其重要性

聚焦離子束顯微鏡是一種利用聚焦離子束對(duì)材料進(jìn)行精確加工和成像的技術(shù)。這種技術(shù)結(jié)合了掃描電子顯微鏡的高精度成像能力和離子束的微加工能力，使得它在材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)和納米技術(shù)領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。聚焦離子束顯微鏡的基本原理是利用離子源產(chǎn)生的離子束，通過電磁透鏡組聚焦成極細(xì)的束流，然后以精確控制的方式照射到樣品表面。離子束與樣品相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生一系列的物理效應(yīng)，如濺射、注入或化學(xué)反應(yīng)，這些效應(yīng)可以被用來移除材料、沉積薄膜或修改材料的表面性質(zhì)。同時(shí)，二次電子和離子的發(fā)射可以被探測(cè)...

2024

10-17

FIB雙束掃描電鏡在故障分析中的優(yōu)勢(shì)

隨著科技的飛速發(fā)展，電子設(shè)備的復(fù)雜性和集成度不斷提高，對(duì)故障分析技術(shù)的要求也日益增加。傳統(tǒng)的故障分析方法往往難以滿足現(xiàn)代電子器件的高精度和高效率需求。FIB雙束掃描電鏡作為一種先進(jìn)的分析工具，憑借其優(yōu)勢(shì)，在故障分析領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的潛力。FIB雙束掃描電鏡將聚焦離子束和掃描電子顯微鏡結(jié)合在一起，實(shí)現(xiàn)了樣品的精確加工和高分辨成像。通過使用鎵離子束對(duì)樣品進(jìn)行局部切割、刻蝕或沉積材料，F(xiàn)IB技術(shù)可以在不破壞樣品整體結(jié)構(gòu)的情況下，制備出高質(zhì)量的截面樣品。這一過程對(duì)于多層互連結(jié)構(gòu)和微小...

2024

10-14

智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

智能型鎢燈絲掃描電鏡是現(xiàn)代材料科學(xué)中重要的分析工具之一。它利用電子束掃描樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子和背散射電子來獲得樣品表面的高分辨率圖像。以下是智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的一些具體應(yīng)用：1、納米材料表征：隨著納米科技的發(fā)展，納米材料的制備和應(yīng)用越來越廣泛。它可以提供高達(dá)納米級(jí)別的分辨率，使得研究人員能夠詳細(xì)觀察納米粒子的形態(tài)、大小和分布情況。這對(duì)于理解納米材料的性能和應(yīng)用至關(guān)重要。2、復(fù)合材料分析：在材料科學(xué)中，復(fù)合材料由兩種或兩種以上不同材料組成...

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